ASTM F 542-2007 电子元件和微电子元件封装用电器外封胶的放热温度用标准试验方法
时间:2024-05-17 06:48:28 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8441
【英文标准名称】:StandardTestMethodforExothermicTemperatureofEncapsulatingCompoundsforElectronicandMicroelectronicEncapsulation
【原文标准名称】:电子元件和微电子元件封装用电器外封胶的放热温度用标准试验方法
【标准号】:ASTMF542-2007
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2007
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电器外封胶;电子工程;外壳;微电子学;温度;测试
【英文主题词】:Composition;Electronicengineering;Enclosure;Microelectronics;Temperature;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L10;G39
【国际标准分类号】:31_240
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 电子设备用电位器 第二部分:分规范:螺杆驱动和旋转预调电位器 |
| 英文名称： | Potentiometers for use in electronic equipment. Part 2: Sectional specification. Lead-screw actuated and rotary preset potentiometers |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
电子元件 >>
电位器 |
| ICS分类： |
电子学 >>
电阻器 >>
电位器、可变电阻器
|
| 替代情况： | SJ 2787-1987 |
| 发布部门： | 信息产业部（电子） |
| 发布日期： | 1994-01-02 |
| 实施日期： | 1995-07-01 |
| 首发日期： | 1994-12-06 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国电子设备用阻容件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-07-25 |
| 页数： | 19页 |
| 书号： | 155066.1-11521 |
适用范围
本标准适用于电子设备用线绕和非线绕的螺杆驱动和旋转预调电位器。这类电位器主要用在很少需要调节的电路中作微调用。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元件 电位器 电子学 电阻器 电位器 可变电阻器
基本信息
| 标准名称： | 标准紧固件的重量 |
| 中标分类： |
机械 >>
通用零部件 >>
紧固件 |
| 替代情况： | JB/Z 349-1989 |
| 发布日期： | 1999-04-05 |
| 实施日期： | 1999-04-05 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 机械标准化所 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 11页 |
| 批文号： | 国机管[1999]199号 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 机械 通用零部件 紧固件